DR-H203-1A電子元件高低溫沖擊試驗(yàn)箱
電子元件高低溫沖擊試驗(yàn)箱(通常也叫做溫濕度沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱)是一種用于測(cè)試電子元件、部件或材料在惡劣溫度變化下的耐受性與穩(wěn)定性的設(shè)備。它能夠模擬產(chǎn)品在快速溫度變化環(huán)境下的工作狀態(tài),以評(píng)估其可靠性和性能。
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更新日期
2024-12-10 - 02
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家 - 03
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